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臺式火花直讀光譜儀 CMOS多元素分析儀

簡要描述:臺式火花直讀光譜儀 CMOS多元素分析儀可分析鐵基體材料,能快速準確定量分析,金屬材料質(zhì)量控制和科學(xué)研究的理想解決方案。

基礎(chǔ)信息

產(chǎn)品型號

YP-OES

廠商性質(zhì)

生產(chǎn)廠家

更新時間

2026-04-28

瀏覽次數(shù)

329
詳細介紹
品牌優(yōu)云譜儀器種類臺式
激發(fā)方式火花價格區(qū)間20萬-25萬
檢測器類雙檢測器(PMT+CCD)應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),制藥/生物制藥,綜合

臺式火花直讀光譜儀 CMOS多元素分析儀

一、儀器概述

直讀光譜儀可分析鐵基體材料,能快速準確定量分析,金屬材料質(zhì)量控制和科學(xué)研究的理想解決方案。

直讀光譜使用日本Hamamatsu公司CMOS信號采集元件,每個CMOS可以分別設(shè)置火花的數(shù)量。 它采用真空光室設(shè)計和全數(shù)字激發(fā)光源。該CMOS光譜儀不僅具有全光譜CCD光譜儀的特點,而且還具有PMT光譜儀的優(yōu)點,對非金屬元素具有很低的檢測限。 整機的設(shè)計合理。 它還具有操作簡便,測試精度高,長期穩(wěn)定等優(yōu)點。

二、臺式火花直讀光譜儀 CMOS多元素分析儀 規(guī)格和技術(shù)參數(shù)

項 目

指 標(biāo)

檢測基體

Fe基

檢測時間

試樣品類型而定,一般20s左右

光學(xué)系統(tǒng)

帕型-龍格羅蘭圓全譜真空型光學(xué)系統(tǒng)

波長范圍

140~680nm

焦距

401mm

探測器

高分辨率,多CMOS探測器

電極

鎢材噴射電極

分析間隙

樣品臺分析間隙:3.4mm

工作溫度

(10~35)℃

存儲溫度

(0~45)℃

工作濕度

20%~80%

氬氣純度要求

99.999%

氬氣進口壓力

0.5MPa

氬氣流量

激發(fā)流量:3.5L/min 待機流量: 0.1L/min.

激發(fā)最大功率

400VA

光源類型

全新可調(diào)節(jié)數(shù)字化光源,高能預(yù)燃技術(shù)(HEPS)

放電頻率

100-1000 Hz

放電電流

最大400A

激發(fā)臺孔徑

13mm

真空系統(tǒng)

真空軟件自動控制、監(jiān)測

工作電源

220V AC,50/60Hz,保護性接地的單相電源

儀器尺寸

620*495*270

儀器重量

33kg

2.2 光學(xué)系統(tǒng)

帕型-龍格結(jié)構(gòu)的全譜光學(xué)系統(tǒng)

最大波長范圍(140~680)nm

多個高性能CMOS探測器

一體化光學(xué)室加工成型,動態(tài)羅檔園安裝,耐環(huán)境溫度變化

真空光室設(shè)計,保證C、S、P都能達到優(yōu)良性能。

光室恒溫控制,恒溫溫度為35℃;

直射式光學(xué)技術(shù)及透鏡MgF2材料,保證C、S、P紫外波長的優(yōu)良能量。

2.3 樣品激發(fā)臺

集成氣路、噴射電極技術(shù)

優(yōu)化的氬氣氣路設(shè)計保證激發(fā)臺的有效冷卻和激發(fā)過程中產(chǎn)生的金屬粉塵有效進入過濾器;使樣品激發(fā)更加穩(wěn)定,并大大減少了人體對金屬粉塵的攝入,有利于保護操作人員的健康安全;

更小的激發(fā)空間,使氬氣消耗更小;

便于使用的樣品夾具

具有電極自吹掃功能,使電極使用壽命更長、清潔電極更加容易

13 mm的激發(fā)孔徑更利于樣品分析

開放式樣品激發(fā)臺可適應(yīng)各種大小、更多形狀樣品的分析(含線材);

單反式透鏡裝置設(shè)計,一般人員都能方便對激發(fā)臺進行維護和透鏡的清洗

2.4 激發(fā)光源

全新可調(diào)節(jié)數(shù)字化光源,最高頻率可達1000Hz;

高能預(yù)燃技術(shù)(HEPS);

優(yōu)化設(shè)計的控制和功率電路,*的激發(fā)安全保護功能

為不同分析目標(biāo)提供優(yōu)良火花、電弧或組合激發(fā)波形

放電電流:最大400 A




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